四川JBRD800雷达液位计
与其它物位技术的对比优势
相比超声波物位计，雷达技术不受温度梯度、真空环境影响，测量距离可达120米；较之射频导纳，其无机械运动部件，维护量减少90%；相对于激光物位计，雷达能穿透蒸汽和泡沫，且不受颜色反射率影响。在粉体测量中，80GHz雷达的精度比电容式高10倍，且无需定期标定。核子物位计虽有强穿透性，但存在辐射隐患，雷达方案更环保。某粮仓改造项目显示，替换机械重锤后，雷达物位计的故障率从年均15次降至0次，能耗降低95%。
雷达物位计的测量效果
雷达物位计是*的雷达式物位测量仪表，测量距离zui大20米，可以用于存储罐、中间缓冲罐或过程容器以及各种料仓的物位测量，输出4…20mA模拟信号。
雷达物位计采用*的非接触式测量，其稳定的材料制造，测量液体、固体介质的物位，两线制、回路供电的技术，供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输，不受压力、温度变化、惰性气体、真空、烟尘、噪音、蒸汽、粉尘、等工况影响。雷达物位计不受介质密度、粘稠度和温度的变化影响，过程压力可达40bar，过程温度可达220℃， 分辨率1mm，无盲区，高精度。
雷达物位计两线制技术，是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品，测量灵敏，刷新速度快，安装简便，牢固耐用，免维护。雷达物位计高频微波脉冲通过天线系统发射并接收，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种的时间延伸方法可以确保稳定和的测量。
即使工况比较复杂的情况下，雷达物位计存在虚假回波，用的微处理技术和调试软件也可以准确的识别出物位的回波。雷达物位计是26G高频雷达式物位测量仪表，输出4-20mA模拟信号，测量zui大距离可达70米；天线被进一步优化处理、新型的微型处理器可以对信号进行更高速率的分析和处理，使仪表能够在反应釜、固体料仓等复杂的测量环境有效工作。
雷达物位计天线发射较窄的微波脉冲，经天线向下传输。微波接触到被测介质表面后被反射回来再次被天线系统接受和处理，传输信号经电子信息处理单元自动转换成物位信号。雷达物位计天线尺寸小，便于安装；非接触性雷达，无磨损，不产生污染，腐蚀、泡沫、水蒸气、粉尘、压力、温度等对雷达的影响微弱，严重粉尘环境对雷达测量影响微弱，波长更短，对倾斜的固体的表面有的反射能力。
智能雷达物位计详细资料:
KK/RL106智能雷达物位计适用于各种过程条件复杂的容器、储罐、料仓等，且不受被测介质物理特性变化影响，外部测量，两线制技术，适用于防爆场合，非接触式与连续测量的脉冲型物位计大测量距离35m。科控致力于打的智能雷达物位计生产厂家，美安特仪表生产智能雷达物位计，科控自动化汇聚的智能雷达物位计生产研发团队，每款智能雷达物位计都是精益求精，只为给您的产品与服务，科控自动化致力于打造的智能雷达物位计生产厂家。
智能雷达物位计订货需知:
为了能的为您提供服务，请您根据您的实际情况，参照选型指南（未尽事项，请咨询），慎重选择适合您具体需求的产品。当您了解您的需求和我们产品的基本属性后，可根据设计要求和现场情况正确选用仪表并按完整的产品规格代码定货。按设计和使用要求未能选出适当的仪表时，请提出问题和要求，我们的人员将协助您选型或为您设计制造的产品，请至少提供下列资料:工作压力、工作温度、介质名称、量程等。
工况仪器仪表:公司目前针对粮储、能源化工等行业提供复杂工况环境下用的测量仪表及解决方案。如俄罗斯利马克高频雷达物位计、伊科菲斯电离辐射料位计和密度计、申铄超声波在线浓度仪等。可在高温、超高压力(测量介质温度:2000℃，60bar)、高粉尘、高腐蚀、易结晶、蒸汽、介电常数 (介电常数1.2-1.4下依然准确)等介质工况下使用。目前已经普遍应用于粮油储仓、石化、钢铁冶金、电厂、水泥等行业储罐物位、介质密度及浓度的在线测量。
实验室平台建设:的化工、材料、技术团队，可以为研究单位定制实验装置，目前已经与中科院硅酸盐研究所、中科院高等院、航天811所、上海交通大学、上海大学、上海理工大学、同济大学等高校科研院所建立项目合作。代理实验室设备，如日本Nanovater纳米分散设备、德国纳博热高温炉、瑞士万通电化学工作站水分仪和电位滴定仪、安捷伦气相谱仪和气质联用仪、珀金埃尔默ICP、哈希浊度仪、梅特勒天平、英国科尔康气体检测仪、日本理研软磁交直仪、MATS磁性材料测量系统、合肥科晶以及国外品牌的锂电池及燃料电池相关实验室设备等。
材料:提供燃料电池及电解水制氢用多孔钛毡、电子元器件高热传导氮化硅基板及金属陶瓷复合材料以及相关热管理材料。
四川JBRD800雷达液位计
产品名称:导波雷达物位计
产品型号:YR
产品报价:
产品特点:导波雷达物位计是基于时间行程原理的电磁波测距系统。仪表探头发出的1GHz的微功率电磁波信号沿着探测组件（探杆或探测缆绳）以光速进行传播。当电磁波接触到被测物质表面时，由于介电常数发生突变，电磁波被反射回来。反射回来的电磁波沿着探测组件传播，并返回到仪表探头。电磁波的发射与接收的时间间隔与仪表探头到被测介质的距离成正比，由此能够计算出仪表探头到被测介质表面的距离。