湖北GDRD82-GESAFXXCDNB雷达液位计

　　皖特缆26G 万向型  石灰石（高频雷达）物位计/安徽天缆电气有限公司供应

　　RZRD-606  万向型高频雷达物位计是一款采用脉冲原理非接触式雷达物位计，可广泛应用于测量固体料位、过程容器、强粉尘、易结晶、结露场合，可以测量石灰石，煤块，水泥，沥青，原油，焦炭，浆料等物料的物位高度。

　　1.1工作原理

　　雷达物位计通过天线发射窄且能量很低的微波脉冲信号，这个脉冲信号以光速在空间传输，遇到被测介质发生反射，反射信号被仪表接收，发射脉冲信号与接收脉冲信号的时间间隔与基准面到被测介质表面的距离成正比，通过测量发射与接收的时间间隔，来实现天线至介质表面距离的测量。

　　1.2 应      用: 固体料位、过程容器、强粉尘、易结晶、结露场合

　　频率范围: 26GHz

　　测量范围: 0-30m

　　精      度: ±15mm

　　介质温度: -40...250℃

　　过程压力: -0.1...4.0Mpa

　　过程连接: 螺纹、法兰

　　防爆等级: Exia II CT6；Exd II CT6

　　防护等级: IP67

　　信号输出: 4...20mA/HART（两线/四线）

　　RS485/Modbus

　　①时间1:产生初始脉冲

　　②时间2:沿喇叭天线向下行进，速度C（光速）

　　③时间3:脉冲遇到介质表面发生反射

　　④时间4:反射脉冲被接收，并被处理器记录

　　⑤脉冲信号从被发射到被接收之间的时间差T，与基准面到介质表面的距离D成正比:D=C×T/2

　　⑥测量的基准面是: 螺纹底面或法兰的密封面

　　⑦ A:量程  B:低位  C:满位  D:盲区

　　图1 测量原理示意图                   ⑧运行时，高料位不能进入测量盲区D

　　1.3 技术优势

　　• 采用高达26GHz的发射频率

　　• 高频率与信噪比，是低介电常数介质的佳选择

　　• 波束角小，能量集中，具有更强抗干扰能力，大大提高了测量精度与性

　　• 测量盲区更小，对于小罐测量也会取得效果

　　• 波长更短，对于小颗粒介质与倾斜的介质表面的物位测量效果

　　• 测量灵敏、刷新速度快、天线尺寸小、安装简便、牢固、免维护

　　• 非接触式测量，无磨损，，可测量液体，固体介质的物位

　　• 几乎不受温度、压力、水蒸汽、泡沫、粉尘等复杂工况的影响

　　• 采用两线制回路供电的技术，供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输，节省成本

　　• 采用微处理器和回波处理技术，可适用于复杂工况

　　• 发射功率低，可安装于金属、非金属容器内，对人体环境均无伤害

　　• 带有按键的显示屏可方便设置仪表的参数

　　1.4 可应用的行业:化工与石化、电力、 钢铁及冶金、 矿产、造纸及纸浆、水及污水、食品与饮料、 制 。

　　可应用的工况:中间料仓、储仓、料斗、储罐、过程罐、搅拌罐、其他。

　　TLRD- 606万向型   石灰石（高频雷达）物位计选型

　　5.1 安装前准备

　　请注意以下事项，以确保仪表能正确安装:

　　• 请确保在过程连接的正下方没有干扰体存在！否则将导致测量错误！

　　• 请预留的安装空间！

　　• 请避免对信号转换器的强烈日照，如有必要，请安装防护罩！

　　• 请避免强烈震动的安装场合！

　　• 可以在同一容器上安装多台 MLRD-600系列雷达物位计！

　　• 为确保、便利及地安装本仪表，请遵照以下的安装指导！

　　5.2 安装指导

　　为避免测量错误及仪表故障，请遵照以下注意事项！

　　5.3 基本要求

　　安徽天缆电气有限公司，天线发射微波脉冲时，都有发射角。从螺纹或法兰下边缘到被测介质表面之间，微波发射角所辐射的区域内，不得有障碍物。因此安装时应尽可能避开罐内设施，如:人梯、限位开关、加热设备、支架等。必要时，须在空罐时进行“虚假回波学”。另外须注意微波发射角度辐射区域不得与加料料流相交。安装仪表时还要注意:高料位不得进入仪表的测量盲区，仪表距罐壁保持的距离，仪表的安装尽可能使天线的发射方向与被测介质表面垂直。安装在防爆区域内的仪表遵守国家防爆危险区的安装规定。防爆型仪表的外壳采用的是压铸铝材质。防爆型仪表安装在有防爆要求的场合时，仪表接大地。

　　产品名称:导波雷达物位计

　　产品型号:YR

　　产品报价:

　　产品特点:导波雷达物位计是基于时间行程原理的电磁波测距系统。仪表探头发出的1GHz的微功率电磁波信号沿着探测组件（探杆或探测缆绳）以光速进行传播。当电磁波接触到被测物质表面时，由于介电常数发生突变，电磁波被反射回来。反射回来的电磁波沿着探测组件传播，并返回到仪表探头。电磁波的发射与接收的时间间隔与仪表探头到被测介质的距离成正比，由此能够计算出仪表探头到被测介质表面的距离。

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